EVAL-CN0565-ARDZ EIT测量系统

Analog Devices EVAL-CN0565-ARDZ电阻抗断层成像 (EIT) 测量系统设计用于表征和计算表面内部阻抗。该系统使用来自于放置在不同位置的电极的几个重复测量值重建导电性地图。EVAL-CN0565-ARDZ支持多达24个电极的阻抗测量设置。该设计采用一对8 × 12模拟交叉点开关，可一次将激励信号施加到一对电极。实施交叉点开关使电路能够最大限度地提高阻抗测量值，从而提高构建图像的分辨率。