针对最高1MHz的输入信号范围进行了优化,AD4880具有低噪声、高线性度和低功率特点,同时简化了模拟前端设计并降低了PCB布局的约束。AD4880 AFE还支持过采样,并集成数字滤波和抽取功能,提供两个独立的多通道LVDS接口,用于实现低延迟的数据传输,同时集成片上FIFO存储器,可在需要降低主机负载时支持异步SPI数据访问。
ADI AD4880非常适合用于数字成像、细胞分析、光谱分析、高速数据采集、数字控制环路、电能质量分析、源测量单元和无损测试系统。该设备采用0.65mm间距的196球、10mm x 10mm CSP_BGA封装,支持-40°C至+85°C的工作温度范围。
特性
- 集成全差分ADC驱动器
- 宽输入共模电压范围
- 高共模抑制
- 集成增益设置电阻器
- 高性能
- 20位分辨率,无失码
- 每个通道的吞吐率:40MSPS
- 转换延迟:46.25ns
- INL:±7.5ppm(典型值),±12ppm(最大值)
- 在fIN=1kHz时,SNR/THD的典型值分别为92.6dBFS/-107.6dBc
- 在fIN=500kHz时,SNR/THD的典型值分别为91.2 dBFS/-108.0dBc
- 噪声频谱密度:-160.9 dBFS/Hz
- 单端至差分转换
- 增益选项包括1.03、1.25、1.53、2.03、2.74、4.11和5.77
- 在40MSPS条件下,每通道的典型功耗低至120.5mW
- 集成低漂移基准缓冲器和去耦功能
- 集成VCM生成功能
- 数字特性和数据接口
- 转换结果FIFO,每通道具有16K的样本存储容量
- 数字平均滤波器,最高支持210倍抽取
- 每个通道独立的SPI配置
- 每个通道可配置数据接口
- 单通道DDR串行LVDS接口,每个通道的传输速率可达800Mbps
- 双通道DDR串行LVDS接口,每个通道的传输速率可达400Mbps
- 单/四通道SPI数据接口
应用
- 数字成像
- 细胞分析
- 光谱
- 高速数据采集
- 数字控制环路和硬件在环
- 电能质量分析
- 源测量单元
- 无损测试
规范
- 双通道SAR ADC,支持同时或独立采样
- 针对高达1MHz的输入信号优化
- 差分输入电压范围取决于所选增益路径和输入引脚
- FDA输入共模电压在SJ引脚处支持±2.91V的有效工作范围
- VREFIN输入额定值为3.0V,集成参考缓冲
- LVDS输出遵循EIA-644信号传输标准,具有可选择的差分输出电平
- 电源域包括±VS、VDD33、VDDLDO、VDD11ChX和IOVDDChX
- ±VS电源范围为3V至10V,典型工作电压为+5V和-1V
- 包装
- 196球CSP_BGA
- 10mm x 10mm封装,0.65mm间距
- 工作温度范围: -40 °C至+85 °C
其他资源
功能框图
发布日期: 2026-06-09
| 更新日期: 2026-06-17

