onsemi EVBUM2897G-EVB 评估板

onsemi EVBUM2897G-EVB评估板设计用于比较测量各种分立封装的Elite SiC MOSFET和IGBT。Onsemi EVBUM2897G-EVB电路板使用户能够快速测试和评估六种封装类型器件的开关性能：TO247-3L、TO247-4L、D2PAK-7L、BPAK7、TOLL和POWER88。该系统为性能测试和设备比较提供了高效的解决方案，具有离散DPT功能，可简化操作。