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Texas Instruments
DLPNIRNANOEVM DLP® NIRscan™ Nano评估模块 - TI
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Texas Instruments DLPNIRNANOEVM DLP® NIRscan™ Nano评估模块
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Texas Instruments DLPNIRNANOEVM DLP NIRscan Nano评估模块 (EVM) 是一款紧凑的电池供电型评估模块。非常适合用于便携式近红外光谱解决方案。NIRscan Nano 设有 DLP2010NIR 数字微镜器件 (DMD),支持蓝牙低功耗。因此能够实现手持式光谱仪的移动实验室测量。此EVM包含DLP2010NIR DMD、衍射光栅以及单元件检测器,以取代昂贵的基于InGaAs线性阵列的检测器设计。
套件内容
采用DLP2010NIR DMD的光谱仪光学引擎
单元件扩展InGaAs检测器
采用DLPC150 DMD控制器和Tiva™ TM4C1297NCZAD处理器的驱动器电子设备
具有2个钨丝灯泡的反射采样模块
电源/电池和电缆单独出售
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优化DLP®光谱仪信号链
针对基于TI DLP®技术的光谱仪系统,在最大限度提高信噪比和分辨率的过程中进行灵活处理,以实现最佳平衡 Based Spec. Sys.
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发布日期: 2017-02-15 | 更新日期: 2025-03-05