F6 MS检查探针
Hirose F6系列MS检查探针设计用于改善检查过程并降低由于检查错误而导致的成本。F6 MS探针在X、Y和Z方向均具有独特的浮动功能,可与板上安装的开关自对准。检查探针可耐受中心偏移,而不会因电缆运动而使探针的尖端偏离中心。因凸缘孔口固定到测试夹具上,所以顶部没有移动部件。Hirose F6系列MS检查探针的测试故障率约为100ppm,非常适合用于任何射频应用。
Hirose F6系列MS检查探针设计用于改善检查过程并降低由于检查错误而导致的成本。F6 MS探针在X、Y和Z方向均具有独特的浮动功能,可与板上安装的开关自对准。检查探针可耐受中心偏移,而不会因电缆运动而使探针的尖端偏离中心。因凸缘孔口固定到测试夹具上,所以顶部没有移动部件。Hirose F6系列MS检查探针的测试故障率约为100ppm,非常适合用于任何射频应用。