.hide-partial { max-height: none; } .show-more { display: none; }

2047 特定功能逻辑

.catnav-wrapper { height: auto; overflow: visible; } .catalog-nav-tabs ul { white-space: normal; }

结果: 2

在结果中搜索

库存量

正常库存

在售

新产品

符合RoHS

.search-refine-wrapper { display: inline-block; min-width: 100%; } .scroll-body { overflow-x: visible; } .search-table-wrapper { overflow: visible; } .hide-partial { max-height: none; } .show-more { display: none; }

零件编号

特定功能逻辑 Mil Enhanced 3.3V AB T Scan Test Device A 595-8V182512IDGGREP

V62/04730-01XE
Texas Instruments
2,000: ¥88.8406
无库存交货期 18 周

制造商零件编号
V62/04730-01XE

Mouser 零件编号
595-V62/04730-01XE

Texas Instruments

特定功能逻辑 Mil Enhanced 3.3V AB T Scan Test Device A 595-8V182512IDGGREP

数据表

产品评论

无库存交货期 18 周

卷轴

¥88.8406

最低： 2,000
倍数： 2,000

卷轴: 2,000

SN74LVTH182512

- 40 C

+ 85 C

TSSOP-64

Reel

特定功能逻辑 Mil Enhanced 3.3V AB T Scan Test Device

8V182512IDGGREP
Texas Instruments
2,000: ¥88.5016
无库存交货期 18 周

制造商零件编号
8V182512IDGGREP

Mouser 零件编号
595-8V182512IDGGREP