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SN74ABT8245 系列特定功能逻辑

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零件编号

特定功能逻辑 Scan Test Device A 5 95-SN74ABT8245DWR A 595-SN74ABT8245DWR

SN74ABT8245DW
Texas Instruments
1: ¥75.7665
13库存量

制造商零件编号
SN74ABT8245DW

Mouser 零件编号
595-SN74ABT8245DW

Texas Instruments

特定功能逻辑 Scan Test Device A 5 95-SN74ABT8245DWR A 595-SN74ABT8245DWR

数据表

13库存量

¥75.7665

¥58.8956

¥53.5168

¥48.138

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最低： 1
倍数： 1

SN74ABT8245

- 40 C

+ 85 C

SOIC-24

Tube

特定功能逻辑 Scan Test Devices AL T 595-SN74ABT8245DW ALT 595-SN74ABT8245DW

SN74ABT8245DWG4
Texas Instruments
1: ¥74.5235
75库存量

制造商零件编号
SN74ABT8245DWG4

Mouser 零件编号
595-SN74ABT8245DWG4

Texas Instruments

特定功能逻辑 Scan Test Devices AL T 595-SN74ABT8245DW ALT 595-SN74ABT8245DW

数据表

产品评论

75库存量

¥74.5235

¥57.8221

¥53.6863

¥49.1324

查看

最低： 1
倍数： 1

Boundry Scan JTAG Logic

SN74ABT8245

- 40 C

+ 85 C

SOIC-24

Tube

特定功能逻辑 Scan Test Device A 5 95-SN74ABT8245DW A 595-SN74ABT8245DW

SN74ABT8245DWR
Texas Instruments
2,000: ¥36.4764
无库存交货期 6 周

制造商零件编号
SN74ABT8245DWR

Mouser 零件编号
595-SN74ABT8245DWR

Texas Instruments

特定功能逻辑 Scan Test Device A 5 95-SN74ABT8245DW A 595-SN74ABT8245DW

数据表

无库存交货期 6 周

卷轴

¥36.4764

最低： 2,000
倍数： 2,000

卷轴: 2,000

SN74ABT8245

- 40 C

+ 85 C

SOIC-24

Reel

SN74ABT8245 系列特定功能逻辑

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