Infineon Technologies 英飞凌 HITFET™智能低边开关
英飞凌 HITFET™ 智能低边开关是多功能功率晶体管,特别适合汽车和工业应用。它们内建的智能和保护特性不仅大幅降低了成本并减小了 PCB、缩短了上市时间,而且与常规、分立解决方案相比提高了性能和 & 可靠性。HITFET 智能低侧开关通过超温、短路、过流、过压和 ESD 保护特性,提供了更高程度的保护。HITFET 在一个易于使用的器件中综合了所有这些保护特性。凭借这些特性再加上英飞凌为世人所知的品质和可靠性,用户大可放心,即使是最具挑战性的应用要求,HITFET 也一定能够满足。
特性
- Versatile power transistors
- Improved performance & reliability over conventional, discrete solutions
- Overtemperature, short circuit, overcurrent, overvoltage, and ESD protections
Development Tools
用于 BTT3018EJ HITFET™ 16mΩ 单通道智能低侧电源开关的评估平台。
用于BTF3035EJ HITFET™ 16mΩ 单通道智能低侧电源开关的评估平台。
提供了一个快速入门平台,用于对BTS3x HITFET™智能低侧开关进行实验室评估。
用于BTF3050EJ HITFET™ 50mΩ 单通道智能低侧电源开关的评估平台。
一款小型85mm x 70mm PCB演示板,预装有BTF3050TE。
用于BTF3080EJ HITFET™ 80mΩ 单通道智能低侧电源开关的评估平台。
通过Arduino Uno R3、XMC1100引导套件或类似板控制3个BTF3050TE低侧开关。
用于BTS3011TE HITFET™ 11mΩ 单通道智能低侧电源开关的评估平台。
用于BTF3125EJ HITFET™ 125mΩ 单通道智能低侧电源开关的评估平台。
设计用于评估BTS3035TF HITFET™开关的特性和性能。
设计用于评估BTS3050EJ HITFET™开关的特性和性能。
设计用于评估BTS3050TF HITFET™开关的特性和性能。
设计用于评估BTS3080EJ HITFET™开关的特性和性能。
设计用于评估BTS3080TF HITFET™开关的特性和性能。
设计用于评估BTS3125TF HITFET™开关的特性和性能。
发布日期: 2014-10-08
| 更新日期: 2025-05-22