ADF41513的设计基于高性能硅锗 (SiGe) 双极互补金属氧化物半导体 (BiCMOS) 工艺,可实现−234dBc/Hz的归一化相位本底噪声。相位频率检波器 (PFD) 的工作频率高达250MHz(整数N模式)/125MHz(小数N模式),可实现更高的相位噪声和杂散性能。使用49位分值时,可变模数∑-Δ调制器可以实现极精细的分辨率。ADF41513可用作整数N PLL或小数N PLL,可使用固定模数以实现亚赫兹频率分辨率或使用可变模数以实现亚赫兹精确频率分辨率。
ADF41513 PLL合成器采用紧凑的24引脚、4mm × 4mm引线框架芯片级封装 (LFCSP),非常适合用于空间受限的应用。
特性
- 1GHz至26.5GHz带宽
- 超低噪声PLL
- 整数N:-235dBc/Hz
- 小数N:–231dBc/Hz
- 超高PFD频率
- 整数N:250MHz
- 小数N:125MHz
- 25位固定/49位可变小数模数模式
- 单端基准输入
- 3.3V电源,3.3V电荷泵
- 集成1.8V逻辑能力
- 相位再同步
- 可编程电荷泵电流:16×范围
- 数字锁定检测
- 3线串行接口,具有寄存器回读选项
- 硬件和软件关断模式
- 工作温度范围:−40°C至+105°C
- 封装类型:LFCSP-24
- 封装尺寸:4mm x 4mm
- 符合RoHS指令
应用
- 测试设备和仪器仪表
- 无线基础设施
- 微波点对点和多点无线电
- 甚小孔径终端 (VSAT) 无线电
- 航空航天与国防
框图
封装图
发布日期: 2019-03-12
| 更新日期: 2023-08-14

