Analog Devices Inc. ADMX2001B阻抗分析仪测量模块
Analog Devices Inc. ADMX2001B精密阻抗分析仪测量模块简化了阻抗测量系统的开发，也可用于增强现有测试平台的功能。ADMX2001B采用高性能混合信号和处理算法，可测量小至0.1fF的电容变化，电阻值高达1GΩ，通常用于测试半导体器件、电子元件和传感器。此外，得益于内置测量算法，Analog Devices Inc. ADMX2001B能够提供各种格式的完全校准的复杂阻抗或导纳测量结果，其中包括电阻、电容和电感的并联和串联组合。
特性
- 复杂阻抗测量：0.2Hz至10MHz
- 高吞吐量
- 测量时间：2.7ms
- 基本相对精度：0.05%
- 宽测量范围
- 电阻范围：100μΩ至1GΩ
- 电容范围：100aF至10F
- 电感范围：10pH至100H
- 可编程测试信号
- 16位幅度调整高达2.4V
- 频率分辨率：0.2Hz
- 16位直流偏置设置高达±2.4V
- 直流电阻测量
- 18种阻抗测量格式，用于C、R、L、Z和Y
- 自动多点和参数扫描
- 校准和夹具补偿功能
- 自动校准例程，用于测量可追溯性
- 非易失性存储器中的校准系数存储
- 补偿消除了夹具寄生效应
应用
- 自动化测试设备
- 半导体特性
- 晶圆验收测试
- 电阻抗频谱分析
- 阻抗网络分析
- 电池测试
板布局
发布日期: 2023-12-06
| 更新日期: 2025-03-04