Analog Devices Inc. EVAL-CN0565-ARDZ EIT测量系统
Analog Devices EVAL-CN0565-ARDZ电阻抗断层成像 (EIT) 测量系统设计用于表征和计算表面内部阻抗。该系统使用来自于放置在不同位置的电极的几个重复测量值重建导电性地图。EVAL-CN0565-ARDZ支持多达24个电极的阻抗测量设置。该设计采用一对8 × 12模拟交叉点开关，可一次将激励信号施加到一对电极。实施交叉点开关使电路能够最大限度地提高阻抗测量值，从而提高构建图像的分辨率。
ADI EVAL-CN0565-ARDZ EIT测量系统设计还具有与主机控制器的全功率和信号隔离功能，可用作生物阻抗应用的参考。
特性
- 多达24个输入电极，软件可选
- 支持2线或4线电极配置
- 真实和视觉测量值高达200kHz
- 开源图像重建算法
- 与主机隔离的电源和数字域
- 兼容Arduino外形尺寸
其他资源
简化框图
布局
发布日期: 2023-11-08
| 更新日期: 2023-11-26