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Broadcom ACPL-074N高速数字CMOS光电耦合器

Broadcom ACPL-074N高速15Mbaud数字CMOS光电耦合器利用LED封装和CMOS集成电路 (IC) 技术，在高达15Mbaud的数据速率情况下实现出色的光学电流隔离。这些光电耦合器的基本构建模块是高速LED和CMOS检测器IC。检测器IC包括一个集成光电二极管、一个高速跨阻抗放大器以及一个带有输出驱动器的电压比较器。内部法拉第屏蔽提供保证的最低30kV/μs的共模瞬态抗扰度规格。Broadcom ACPL-074N光耦合器已获得UL认证，其隔离电压为3750VRMS，可持续1分钟，符合UL1577标准要求。 

特性

  • 卓越的光学隔离和绝缘性
  • 3.3 V与5 V CMOS兼容性
  • 低电源电流：1.5mA（最大值）
  • 低LED驱动电流：4mA（最小值）
  • 数据传输速率：15Mbaud（最小值）
  • 共模瞬态抗扰度：30kV/μs（最小值）
  • 工作温度范围：-40 °C至+125 °C
  • SO-8 封装
  • 安全及管理批准
    • IEC/EN 60747-5-5：隔离工作电压为567VPK
    • UL 1577：隔离电压为3750VRMS，持续1分钟
    • CAN/CSA-C22.2 No. 62368-1

应用

  • RS-485、CANBus和I2C通信接口
  • 微处理器和微控制器系统接口
  • 模拟-数字 (A/D) 和数字-模拟 (D/A) 转换器的数字隔离

规范

  • 0 V 到 6.5 V 的供电电压范围
  • 最大平均正向输入电流为20mA
  • 最大输入功率耗散为35mW
  • 每个通道的最大输出功率耗散为30 mW
  • 工作电源电压范围：3.0 V至5.5 V
  • 正向输入工作电流范围：4mA至10mA
  • 正向关断工作电压：0.8V（最大值）
  • 输入电容：60pF（典型值）
  • 交换
    • 逻辑低/高输出传播延迟时间：55ns（最大值）
    • 脉冲宽度失真：25ns（最大值），6ns（典型值）
    • 传播延迟偏差：25ns（最大值）
    • 输出上升时间：6ns（典型值，10%至90%）
    • 输出下降时间：5ns（典型值，90%至10%）
    • 逻辑高/低输出时的最小静态共模瞬态抗扰度：30kV/μs
  • 绝缘
    • 4.9mm最小外部气隙，外部间隙
    • 4.8mm最小外部跟踪距离，外部爬电距离
    • 0.08mm最小内部塑料间隙，内部间隙
    • ≥175V跟踪电阻 [比较跟踪指数 (CTI)]
  • 污染度：2
  • 最大工作隔离电压：567VPEAK
  • 输入至输出测试电压范围：907VPEAK至1063VPEAK
  • 最高允许过压：6000VPEAK
  • 安全限制值
    • 外壳温度：+150 °C
    • 输入电流：150mA
    • 输出功率：600mW
  • 绝缘电阻≥109Ω
  • 最大引线焊接温度：+260°C，持续10s
  • 包装
    • 最小输入输出瞬时耐压：3750VRMS
    • 典型输入输出电阻：1014Ω
    • 输入-输出电容：0.6 pF（典型值）

功能图

原理图 - Broadcom ACPL-074N高速数字CMOS光电耦合器

尺寸

机械图纸 - Broadcom ACPL-074N高速数字CMOS光电耦合器

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发布日期: 2025-08-28 | 更新日期: 2025-09-03