Broadcom AFBR-S20SK-V2狭缝评估套件
Broadcom AFBR-S20SK-V2狭缝评估套件设计用于评估Qmini和Qwave光谱仪,狭缝直径为50 μm、100μm、150μm和200μm。该狭缝评估套件 设有六角沉头螺丝键,让用户可以切换SMA连接器选择一种集成的狭缝。这将允许用户调整其应用的光学性能。狭缝越小,光学分辨率就越高,但器件光谱灵敏度就越低。该器件的狭缝直径从20μm变为50μm,光吞吐量就加倍,可检测更弱的信号。该评估套件符合RoHS6指令。
特性
- 50μm、100μm、150μm和200μm狭缝
- 六角插座螺丝键
- 符合 RoHS6 要求
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在工业自动化到消费类电子产品等各类应用环境中,均可提供卓越性能。
发布日期: 2021-03-12
| 更新日期: 2024-09-19