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Hirose Electric
F6 MS检查探针 - Hirose
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Hirose Electric F6 MS检查探针
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Hirose F6系列MS检查探针设计用于改善检查过程并降低由于检查错误而导致的成本。F6 MS探针在X、Y和Z方向均具有独特的浮动功能,可与板上安装的开关自对准。检查探针可耐受中心偏移,而不会因电缆运动而使探针的尖端偏离中心。因凸缘孔口固定到测试夹具上,所以顶部没有移动部件。Hirose F6系列MS检查探针的测试故障率约为100ppm,非常适合用于任何射频应用。
特性
采用独特的浮动结构,最高可达6GHz,可耐受中心偏移
凸缘孔口固定到测试夹具上,因此没有移动部件
应用
射频应用
智能手机
平板电脑
智能眼镜
智能手表
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Hirose Electric
发布日期: 2019-10-24 | 更新日期: 2023-04-11