特性
- 超薄外形:厚100µm
- 低漏电流
- 高稳定性(温度和电压)
- 老化引起的电容损失可忽略不计
- 与标准的引线接合组件(球形和楔形)兼容
应用
- 任何要求苛刻的应用,如雷达、无线基础设施通信、数据广播
- 因焊盘平坦度而需采用标准的引线接合方法(顶部和底部镀金)
- 去耦、直流噪声和谐波滤波、匹配网络(例如:GaN功率放大器、LDMOS)
- 高可靠性应用
- 小尺寸薄型应用 (100µm)
- 完全兼容单层陶瓷电容器和金属氧化物半导体
规范
- 电容范围:47pF至22nF
- 电容容差:±15%
- 温度范围
- 工作温度范围:-55°C至+150°C
- 储存温度范围:-70°C至+165°C
- 温度系数:+60ppm/K
- 击穿电压:11V、30V、50V、100V、150V和450V
- 老化:<0.001%/1000小时
- 厚度:100µm
发布日期: 2019-10-24
| 更新日期: 2025-07-02

