Nexperia NEVB-NPS1001评估板的VIN 和VOUT 连接以及PCB布局布线为测试器件提供了低电阻进出路径。测试点连接使用户能够根据用户定义的测试条件控制器件,并进行精确的RON 测量。
特性
- 输入电压可通过测试点J3 (VIN) 提供,VIN 范围为0.5V至1.8V
- 或者,TP4、TP5、TP6和TP7处设有GND测试点
- 去耦电容器连接到EVB输入端的VIN 并靠近负载开关IC;输出端也是如此
- 可以将测试负载连接到终端J4 (VOUT)
- 使能引脚 (EN) 和偏置引脚 (BIAS) 均可方便地连接到引脚接头和微型测试点,从而允许在使用外部源驱动引脚时无缝连接示波器
- 当需要对输入或输出进行精确测量时,使用VIN_Sense (TP2) 和VOUT_Sense (TP8)
应用
- 手机
- 可穿戴设备
NEVB-NPS1001使能选项
布局
发布日期: 2025-08-10
| 更新日期: 2025-09-05

