NXP Semiconductors NAFE33352 评估板
NXP Semiconductors NAFE33352评估板专为测试 NAFE33352而设计。该产品是一款可通过软件配置的通用模拟输入和输出 (AIO) 模拟前端 (AFE)，可满足工业级应用的高精度测量和控制要求。
NAFE33352-EVB是一个可软件配置的通用AIO-AFE评估板。KITNAFE33352-EVB包括NAFE33352-EVB评估板和 LPC54S018 MCU（带定制固件）板，提供一个易于使用的评估平台。
特性
- 主要特性
- 一个软件可配置的模拟输入和输出
- 两个通用输入
- 具有14/16/18位选项的数模转换器 (DAC)，以及0至100ksps/200ksps，用于低功耗/高速
- 具有16/24位选项的模数转换器 (ADC)，以及7.5sps至288ksps/576ksps，用于低功耗/高速
- ±36V受保护的I/O（输出需要外部瞬态电压抑制器）
- 输入和输出端的短路保护
- 电路板特性
- 电源电压范围：±7V至±28V
- 温度范围：-40 °C至125 °C
- 易于使用的评估平台，配有GUI
- 符合EMC标准，即可使用的完整硬件设计
- 通道配置
- ±12.5V、±25mA和1mΩ至1MΩ I/O范围
- 工厂校准或用户校准选项
- 精度
- 室温下精度为±0.01%
- 过温下的精度为±0.08%（室温校准后）
应用
- 分布式控制系统 (DCS)
- 工业自动化和过程控制
- 工业HMI
- 可编程逻辑控制器 (PLC) 和远程I/O
NAFE3352-EVB目录
KITNAFE33352-EVB目录
发布日期: 2025-10-15
| 更新日期: 2025-10-22