onsemi EVBUM2901G-EVB 评估板

onsemi EVBUM2901G-EVB评估板设计用于HOT温度测试和可变脉宽调制(PWM)生成。onsemi EVBUM2901G-EVB支持使用兼容子卡测试击穿电压高达1200V的分立SiC和Si封装。该电路板将实验室级PWM发生器、热源和+5V输出集成到一个紧凑的设计中,由一个12V适配器(已包括)供电,从而以精简的设置实现了高效可靠的测试。

特性

  • 热阻低的热板印刷电路板
  • 炉盘温度调节(OFF、125°C、150°C、175°C)
  • 10pulse PWM发生器(5V,频率30kHz,脉宽0.2s至10s)
  • 与离散双脉冲测试仪完全兼容
  • 附带电源适配器
  • 使用led指示灯和显示屏的直观界面

应用

  • 分立封装测试(碳化硅、硅)
  • 高压设备鉴定
  • 热性能评估
  • 脉宽调制分析

概述

onsemi EVBUM2901G-EVB 评估板
发布日期: 2025-01-20 | 更新日期: 2025-02-19