Renesas Electronics 数字IC老化测试系统

Renesas Electronics 数字集成电路老化测试系统由高性能RA4微控制器(MCU)、电源解决方案和电源监控模拟前端集成电路(IC)构建而成。该款MCU以RA4 ARM^®为核心，符合系统控制要求。ISL8272M和ISL8277M电源模块支持PMBus接口，可调整待测试集成电路的电源输出电压，并提供最佳热性能。该老化系统包括ISL28023电源监控IC，可为高精度测试电压和电流提供反馈。