ROHM Semiconductor BM1ZxxxFJ交流电压过零检测IC

ROHM Semiconductor BM1Z交流电压过零检测 (ZCD) IC是电压比较器,可输出交流电压过零计时检测和二极管整流后的直流电压。  无需传统ZCD电路所需的光电耦合器和外部元件,因此可以大幅减少元件数量,实现紧凑、高度可靠的电源应用。此外,与现有的光耦合器控制器相比,BM1ZxxxFJ IC可以大幅降低待机功耗。

ROHM Semiconductor BM1ZxxxFJ系列将过零电路的待机功耗降至仅0.01W,同时持续为系统供电。配备传统光电耦合器的过零检测电路存在的延迟时间误差(取决于交流电压)限制在±50μs或以下。即使在不同国家和地区使用不同的交流电源电压以及MCU(使用传统的过零检测电路很难实现),也能高效驱动电机。同时,无需使用光耦合器,可降低与基于寿命的退化相关的风险,从而提高应用的可靠性。

优点

  • 无光电耦合器过零检测电路设计将应用待机功耗降至最低
    传统的过零检测电路通常采用光电耦合器和晶体管,几乎占整个应用待机功耗的一半。这次,在分析了不同环境下的数百种电源模式后,罗姆开发出了能够在没有光耦合器的情况下进行过零检测的IC。除了减少零件数量外,该设计还可实现接近零 (0.01 W) 的待机功耗。在电机应用中,通过消除电机输入电压检测电路,可进一步减少组件数量和待机功耗。

  • 有助于提高各国和地区家用电器的可靠性和效率
    使用光电耦合器所涉及的风险包括由于发光强度随时间衰减而导致的性能下降。消除光电耦合器不仅可降低这种故障风险,还可将延迟时间误差限制在±50μs或以下。延迟时间误差根据交流电压而异。这使得即使在不同国家使用不同的电源电压(100V至230V)以及MCU的情况下,也可有效驱动电机,这是使用传统过零检测电路难以或不可能实现的。

  • 轻松替代传统的过零检测电路
    BM1ZxxxFJ系列支持传统过零检测电路中使用的波形(脉冲/边沿)和电路拓扑(标准整流/双整流),允许用户轻松更换配备光电耦合器的标准过零检测电路,无需更换软件。

  • 集成电压钳位功能可保护下游MCU
    BM1ZxxxFJ系列兼容高达600V的输入电压,执行分压输出,输出电压低于MCU的最大额定电压,并驱动高达5V的标准MCU。该器件还具有电压钳位功能,可确保输入电压不超过4.8V,即使在空调等高压驱动应用中产生异常电压,也能保护MCU。

特性

  • 交流过零检测 (ZCD) 功能
    • 无需使用光耦合器
    • 600V高压监控器
    • 处理常规整流和双整流
    • N通道开漏输出
  • 直流电压监控器功能
  • VCC 欠压锁定
  • 脉冲输出波形
  • 待机电流:50µA(典型值)
  • 工作电流:160µA(典型值)
  • VIN:10V至28V
  • 开关频率:0.065kHz
  • 热关断
  • 欠压锁定
  • 工作温度范围:-40°C至+105°C
  • 封装选项:SOP-J11、SOP-J7S

应用

  • 电饭锅和烘干机等电器
  • 配备电机的电器
    • 空调
    • 洗衣机
    • 真空吸尘器

视频

过零点

ROHM Semiconductor BM1ZxxxFJ交流电压过零检测IC

从交流插座供电的家用电器需要过零检测电路,以检测过零点(即交流波形的0V点),从而高效控制电机和MCU。因此,提高过零检测精度可实现更高效的电机和MCU控制。当电机停止时,通过在0 V时可靠地停止电压,脉冲控制器可提供更高电路安全性。

在电机应用中的优势

ROHM Semiconductor BM1ZxxxFJ交流电压过零检测IC

应用实例

ROHM Semiconductor BM1ZxxxFJ交流电压过零检测IC

输出波形

ROHM Semiconductor BM1ZxxxFJ交流电压过零检测IC

BM1Z00xFJ框图

框图 - ROHM Semiconductor BM1ZxxxFJ交流电压过零检测IC

BM1Z10xFJ 方框图

框图 - ROHM Semiconductor BM1ZxxxFJ交流电压过零检测IC
发布日期: 2020-07-14 | 更新日期: 2024-10-01