ROHM Semiconductor RASMID硅射频电容器

ROHM Semiconductor RASMID硅射频电容器具有高可靠性、180μm薄型设计和3.6V额定电压。这些硅电容器通过大电极尺寸实现高剪切强度。RASMID硅射频电容器具有高达1000pF典型电容、±10μm尺寸容差以及±8kV(HBM) ESD保护等级。这些电容器的工作温度范围为- 55°C至150°C,电容容差为-15%至15%,反向击穿电压为8.2V至9.2V。RASMID硅射频电容器采用0.4mm x 0.2mm封装,非常适合用于无线、可穿戴设备和光学收发器。

特性

  • 典型电容:
    • 1000pF (BTD1RVFLT27N102)
    • 470pF (BTD1RVFLT27N471)
  • 可靠性高
  • 薄型设计:180μm
  • ESD保护等级:±8kV (HBM)
  • 尺寸容差:±10μm
  • 通过大电极尺寸实现高剪切强度
  • 额定电压:3.6V
  • 封装:0.4mm x 0.2mm
  • 工作温度范围:-55°C至150°C
  • 电容容差:-15%至15%
  • 反向击穿电压:8.2V至9.2V
  • 10GΩ典型绝缘电阻器

应用

  • 无线
  • 可穿戴设备
  • 光收发器

内部电路图

应用电路图 - ROHM Semiconductor RASMID硅射频电容器

特性曲线

性能图表 - ROHM Semiconductor RASMID硅射频电容器

尺寸图

机械图纸 - ROHM Semiconductor RASMID硅射频电容器
发布日期: 2023-09-01 | 更新日期: 2023-09-14