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Texas Instruments AFE2256 256通道模拟前端 (AFE)

Texas Instruments AFE2256 256通道模拟前端 (AFE) 设计用于满足基于平板探测器 (FPD) 的数字X射线系统的要求。AFE2256包括256个积分器、1个可编程增益放大器 (PGA)、1个带有双存储区的相关双采样器 (CDS) 以及若干256:4模拟多路复用器。另外，该器件还包括四个16位逐次逼近寄存器 (SAR) 模数转换器 (ADC)。ADC串行数据采用低压差分信号 (LVDS) 格式。借助打盹模式和掉电模式等节能特性，可大幅降低功耗，这在由电池供电的系统中尤其有用。

特性

  • 256个通道
  • 片上、16位ADC
  • 光电二极管抗短路
  • 低功耗
  • 打盹模式和完全掉电模式
  • 高性能：
    • 噪声：750个电子RMS（1.2pC输入电荷范围）
    • 低相关噪声
    • 积分非线性：±2LSB，带内部16位ADC
    • 扫描时间：<20µs至204.8µs
  • 集成：
    • 六个可选满量程输入范围：0.6pC（最小值）至 9.6pC（最大值）
    • 内部定时发生器 (TG)
    • 内置相关双采样器
    • 流水线式积分与读取提高了吞吐量：允许在积分过程中读取数据
    • 串行LVDS输出
    • 定制薄膜覆晶 (COF) 封装
  • 简单电源方案：
    • AVDD1=1.85V
    • AVDD2=3.3V

应用

  • X射线平板探测器
  • 电荷探测器
  • 电容测量

框图

框图 - Texas Instruments AFE2256 256通道模拟前端 (AFE)
发布日期: 2018-10-24 | 更新日期: 2024-03-15