Texas Instruments AFE3256 256通道模拟前端
Texas Instruments AFE3256 256通道模拟前端 (AFE) 设计用于满足基于平板检测器 (FPD) 的数字X射线系统的要求。AFE3256具有256个集成器、带双电源的相关双采样器 (CDS) 和256:2模拟多路复用器。该器件还具有两个16位逐次逼近寄存器 (SAR) 模数转换器 (ADC)。来自ADC的串行数据采用低压差分信令 (LVDS) 格式。
TI AFE3256通常也称为读出集成电路 (ROIC)，可使用多种功耗模式和系统内调试选项等特性来优化整体系统性能。睡眠和待机模式能够大幅降低功耗，这对于电池供电型系统至关重要。
特性
- 高性能：
- 噪声：440个电子RMS（1.2pC输入电荷范围）
- 低相关噪声
- 全通道积分非线性：16位时为±2LSB
- 扫描时间：<16µs至204.8µs
- 集成：
- 可编程满量程输入电荷量范围：0.3pC至12.5pC，分辨率为0.3pC
- 内部时序发生器 (TG)
- 内置相关双采样器
- 软件可编程电子或空穴积分模式
- 流水线式“集成和读取”，用于提高集成期间的吞吐量数据读取
- 串行LVDS输出
- 片上温度传感器
- 256通道
- 片上、16位ADC
- 单个1.85V电源供电运行的简单供电方案
- 多种功耗模式，功耗范围为1mW/ch至2mW/ch
- 睡眠和待机的掉电模式
- 分箱模式支持
- 定制薄膜覆晶 (COF) 封装
应用
- X射线平板探测器
- 电荷检测器
- 电容测量
框图
发布日期: 2024-01-29
| 更新日期: 2024-07-18