Texas Instruments SN74ACT165/-Q1移位寄存器

Texas Instruments SN74ACT165/-Q1移位寄存器在八个移位寄存器中提供异步并行输入加载功能。该器件具有串行数据输入功能,可实现串联。移位寄存器包括时钟抑制和反相输出引脚,从而提高了系统设计的灵活性。

TI SN74ACT165/SN74ACT165-Q1寄存器非常适合用于增加微控制器和电路板修订的输入端数量。

SN74ACT165-Q1器件符合AEC-Q100标准,适用于汽车应用。

特性

  • 符合AEC-Q100汽车应用类标准:
    • 器件温度等级1:-40°C至+125°C
    • 器件HBM ESD分类等级2
    • 器件CDM ESD分类等级C4B
  • 采用可湿性侧翼QFN封装
  • 4.5 V 到 5.5 V 的工作电压范围
  • TTL兼容输入
  • 连续±24mA输出驱动(5V时)
  • 在5V电压下,支持±75mA的短时输出驱动能力
  • 驱动50Q输电线路
  • 在5V电压下,操作速度快,最大延迟为12.4ns

应用

  • 增加微控制器的输入端数量
  • 读板修改

功能框图

框图 - Texas Instruments SN74ACT165/-Q1移位寄存器
发布日期: 2026-01-12 | 更新日期: 2026-01-20