Texas Instruments SN74HCT165/SN74HCT165-Q1移位寄存器

Texas Instruments SN74HCT165/SN74HCT165-Q1并联负载移位寄存器是一款并联或串联输入、串联输出8位移位寄存器。借助八个独立的直接数据 (A-H) 输入并行访问每个级,通过移位/负载 (SH/LD) 输入的低电平实现。SN74HCT165/SN74HCT165-Q1还具有时钟抑制 (CLK INH) 功能和互补串行 (Q H) 输出。Texas Instruments SN74HCT165-Q1器件符合汽车应用类AEC-Q100认证。

特性

  • 兼容LSTTL输入逻辑
    • VIL(max)=0.8V、VIH(min)=2V
  • 兼容CMOS输入逻辑
    • II≤1µA(VOL、VOH时)
  • 工作电压: 4.5V至5.5V
  • 最多支持10个LSTTL负载的扇出
  • 直接覆盖负载(数据)输入
  • 门时钟输入
  • TA扩展环境温度范围:–40°C至+125°C

应用

  • 增加微控制器上的输入数量

功能框图

框图 - Texas Instruments SN74HCT165/SN74HCT165-Q1移位寄存器
发布日期: 2022-03-16 | 更新日期: 2022-04-04