该器件具有出色的高速性能,可最大限度地降低USB 2.0或eUSB2 HS信号眼图的衰减。它还具有超低通道导通电阻、高带宽、低反射以及低附加抖动。该器件经过优化,可实现出色的高频响应,从而更容易通过USB 2.0 HS电气合规性测试。该器件的数据路径也经过匹配,可实现出色的差分对内延迟性能。
Texas Instruments TMUXHS221LV具有扩展温度范围,适合用于许多环境恶劣的应用,包括工业和高可靠性用例。
特性
- 兼容USB 2.0和eUSB2 LS、FS和HS物理层
- 支持高达3Gbps差分信号的开关
- 可支持大多数高达3.3V的CMOS信号的模拟开关
- 数据引脚可承受5V电压
- 低RON:3Ω(VI/O=0V时)
- 高-3dB带宽为3.3GHz
- 非常适合240MHz下的USB 2.0或eUSB2 HS信号
- 插入损耗= –0.4dB
- 回波损耗= –22dB
- 关断隔离或串扰=–32dB
- 超低的垂直和水平USB 2.0 HS眼图衰减
- 电源电压:1.8V
- 1.2V或1.8V控制逻辑输入
- 扩展工业温度范围:-40°C至125°C
- 小型10引脚1.8mm×1.4mm UQFN封装
- 具有多个源的引脚对引脚和BOM对BOM
应用
- 个人电脑和笔记本电脑
- 游戏、电视、家庭影院和娱乐
- 数据中心和企业计算
- 医疗应用
- 测试和测量
- 工厂自动化和控制
- 手机和平板电脑
应用用例
发布日期: 2023-11-06
| 更新日期: 2023-11-21

