STMicroelectronics SPC570S MCU

STMicroelectronics SPC570S MCU是32位汽车微控制器,设计用于下一代初级车辆安全系统,例如ABS和安全气囊。这些片上系统 (SoC) 器件符合ASIL-D规范,工作频率可达80MHz。对于应用开发,MCU与目前的Power Architecture®开发基础设施兼容,提供软件驱动器、操作系统以及配置代码支持。这些MCU可在低功耗下提供高性能处理。

特性

  • 高性能e200z0h双核
    • 32位Power Architecture技术CPU
    • 内核频率高达80MHz
    • 单指令4级流水线有序执行内核
    • 可变长度编码 (VLE)
  • 高达544KB(512KB代码+ 32KB数据,适用于EEPROM仿真)片上闪存:支持在编程和擦除操作期间读取,
  • 以及支持EEPROM仿真的多个块
  • 高达48KB片上通用SRAM
  • 具有16个通道的多通道直接内存访问控制器(eDMA以锁步方式配对)
  • 双锁相环,具有用于外设的稳定时钟域和用于计算外壳的FM调制域
  • Nexus Class 3调试和跟踪接口
  • 通信接口:
    • 2个LINFlexD模块
    • 3个解串串行外设接口 (DSPI) 模块
    • 最多2个FlexCAN接口,每个接口有32个消息缓冲区
  • 带引导辅助闪存 (BAF) 的片上CAN/UART引导加载程序 支持以下物理接口 (PHY):
    • UART
    • CAN
  • 2个增强型12位SAR模数转换器:
    • 1.5μs转换时间 (12MHz)
    • 16个物理频道(2个SARADC单位之间完全共享)
    • 监控器ADC概念
    • 可编程交叉触发单元 (CTU)
  • 4个通用eTimer单元(每个单元6个通道)
  • 3.3V或5V单电源电压
  • 结温范围:-40°C至150°C
  • 全面的新一代ASILD安全理念:
    • 通过延迟锁步方法实现总线主控(内核+ INTC,DMA)的安全性
    • 主要通过ECC实现存储安全性(闪存、SRAM)
    • 主要通过端到端EDC (E2E EDC) 实现存储和外设数据路径的安全性
    • 由专用监控器监控时钟和电源、发电和配电
    • 用于收集和响应故障通知的故障收集和控制单元 (FCCU)
    • 内存错误管理单元 (MEMU),用于收集和报告内存中的错误事件
    • 针对潜在故障的引导时间MBIST和LBIST
    • faults
    • 通过专用机制检查安全机制可用性和错误反应路径功能
    • 通过应用级措施(由复制的外设桥和LBIST支持)确保外设的安全性
    • 针对专用外设的进一步措施(如 ADC监控器)
    • 结温传感器
    • 具有进程ID支持(任务隔离)的8区系统内存保护单元 (SMPU)
    • 增强型软件看门狗
    • 循环冗余校验 (CRC) 单元

SPC570S MCU框图

框图 - STMicroelectronics SPC570S MCU
发布日期: 2016-03-16 | 更新日期: 2022-03-11