Texas Instruments 16DYYPWEVM测试板
Texas Instruments 16DYWEVM测试板采用SOT-23 THIN (DYY) 和TSSOP (PW) 封装，具有双占位面积。16DYYPWEVM测试板用于对采用16引脚SOT-23 THIN (DYY) 和 TSSOP (PW) 封装的集成电路进行快速原型设计和测试。
特性
- SOT-23 THIN (DYY) 和TSSOP (PW) 封装双占位面积
- 对采用SOT-23 THIN (DYY) 和 TSSOP (PW) 封装的16引脚集成电路进行快速原型设计和测试
- 所有16个信号路径均包括0603焊盘，用于上拉、下拉或负载电容器
- 测试站点，带3个SMB连接器，用于对TMUX1574和SN3257-Q1器件进行高速评估
布局
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发布日期: 2019-12-23
| 更新日期: 2024-02-12