Texas Instruments PLABS-SAR-EVM-PDK性能演示套件

Texas Instruments PLABS-SAR-EVM-PDK性能演示套件是一个实验平台,与TI高精度实验室视频配合使用有助于深入了SAR ADC电路。该套件可让设计人员深入了解逐次逼近寄存器 (SAR) 模数转换器 (ADC) 电路。该评估模块 (EVM) 平台包含适用于公共SAR ADC电路的两个通道,该电路可轻松连接到高精度信号注入器评估模块 (PSIEVM)。 PSIEVM可提供用于驱动SAR ADC的低失真、低噪声输入信号。第三个通道旨在用不同吞吐量对超低功耗ADC进行功耗调节。该平台还包含可安装在主板上的10个测试板,用于显示不同前端驱动电路对性能的影响。

特性

  • 直观的安装过程 - 原理图显示在PCB镀层
  • 无需外部电源
  • 包含多个配有不同驱动放大器RC滤波器的测试板,以便于进行实验
  • 随附PHI控制器,可方便地通过USB 2.0(或更高版本)连接至EVM,以实现电力输送以及数字I/O
  • 软件套件包括
    • 用于数据采集的图形工具
    • 光谱分析
    • 输出代码直方图生成

套件内容

  • PLABS-SAR-EVM板
  • PHI EVM控制器
  • PSI评估模块 (PSIEVM)
  • 测试板 (10)
  • USB电缆 (2)
  • SMA电缆 (1)
发布日期: 2018-03-26 | 更新日期: 2022-11-03