TI TMUXHS221具有出色的高速性能,可将USB 2.0或eUSB2 HS信号眼图的衰减降至超低水平。该特性的运行具有非常低的通道导通电阻、高带宽、低反射和低附加抖动。该器件经过优化,可实现出色的高频响应,从而更容易地通过USB 2.0 HS电气合规性测试。TMUXHS221的数据路径也经过匹配,可实现出色的差分对内延迟性能。
TMUXHS221具有扩展的温度范围,适合用于许多环境恶劣的应用,包括工业和高可靠性用例。
特性
- 兼容USB 2.0和eUSB2 LS、FS和HS物理层
- 模拟开关可支持大多数高达3.3V和3Gbps的CMOS或差分信号
- 数据引脚可承受5V电压
- VI/O = 0.2V时,RON低至3Ω
- 高–3dB带宽为3.3GHz
- 非常适合240MHz下的USB 2.0或eUSB2 HS信号:
- 插入损耗 = –0.4dB
- 回波损耗 = –22dB
- 关断隔离/串扰 = –32dB
- 超低的垂直和水平USB 2.0 HS眼图衰减
- 电源电压:3.3V
- 控制逻辑输入:1.8V或3.3V
- 扩展工业温度范围:–40°C至+125°C
- 小型10引脚1.4mm × 1.8mm UQFN封装
- 具有多个源的引脚对引脚和BoM对BoM
应用
- 个人电脑和笔记本电脑
- 游戏、电视、家庭影院和娱乐
- 数据中心和企业计算
- 医疗应用
- 测试和测量
- 工厂自动化和控制
- 手机和平板电脑
应用用例
发布日期: 2022-12-22
| 更新日期: 2023-06-26

