该阵列非常适合检测低强度脉冲光源,尤其是检测来自最常见的有机(塑料)和无机闪烁材料(例如LSO、LYSO、BGO、NaI、CsI、BaF、LaBr3)的切伦科夫光或闪烁光。而且,该器件不含铅,符合RoHS指令。
特性
- 2×1 SiPM阵列
- 阵列尺寸:13.54mm × 6.54mm
- 高PDE值,420nm时超过65%
- 出色的SPTR和CRT
- 出色的击穿电压均匀性
- 增益均匀性极佳
- 四面可平铺,具有高填充系数
- 单元间距: 40µm × 40µm²
- 高度透明的环氧树脂保护层
- 工作温度范围:0°C至+60°C
- 符合RoHS指令以及CFM和REACH标准
应用
- X射线和伽马射线检测
- 伽马射线光谱
- 安全与安保
- 核医学
- 正电子发射计算机断层扫描
- 生命科学
- 流式细胞术
- 荧光-发光测量
- 时间相关单光子计数
- 高能物理学
- 天体物理学
回流焊示意图
框图
其他资源
发布日期: 2022-07-12
| 更新日期: 2023-10-27

