onsemi EVBUM2909G-EVK子卡
onsemi EVBUM2909G-EVK子卡 是专为离散双脉冲测试仪EVBUM2897设计的扩展套件。onsemi子卡具有电路板边缘连接器以及被测设备1和被测设备2测试点,特别适用于分立MOSFET测试。虽然不包括MOSFET,但可以使用onsemi的分立器件组装这些板卡。该扩展套件支持多种软件包类型,包括TO247-3L、TO247-4L、D2PAK-7L、TOLL、POWER88和BPAK-7。
特性
- 设计用于离散双脉冲测试仪 EVBUM2897
- 包括电路板边缘连接器,便于组装
- 配备用于被测设备1和DUT2分立MOSFET的测试点
- 不包括MOSFET;与onsemi分立器件兼容
- 支持TO247-3L、TO247-4L、D2PAK-7L、TOLL、POWER88、BPAK-7
相关产品
专为比较测量各种分立封装中的Elite SiC MOSFET和IGBT而设计。
发布日期: 2025-01-20
| 更新日期: 2025-02-19