Vicor 自动测试设备应用产品

高密度、高效率的Vicor电源模块使ATE系统设计工程师能够利用新的电源传输网络 (PDN) 架构，从而在相同或更小尺寸的测试头上增加测试头引脚数。新的数据中心、军事、汽车和工业IC消耗的功率不断增加，并且具有多种不同的电压。Vicor 的模块化方法用于PDN，可使ATE制造商能够轻松地扩展功率，并支持不同的电压，从而实现快速开发和快速上市。

CPU、GPU和SOC的高密度模块化测试

半导体制造商依靠高密度测试系统来支持其日益复杂的产品组合。AI 处理器、CPU、GPU、SoC 和移动处理器正在增加更强大的功能，包括射频连接、电源管理和混合信号处理。为了支持这些不同的IC功能，ATE系统需要先进的PDN来处理各种不同的功率和电压。

这些测试仪的模块化也变得至关重要，因为测试仪需要从测试1V下消耗1000A的AI处理器切换到混合信号SoC，而其电流仅为处理器电流的一小部分，对EMI极为敏感。Vicor的正弦振幅转换 (SAC) 拓扑，其本身高频下的软开关具有很低噪声，大大减少了由于高EMI而产生的虚假测试结果。

提升前端ATE电源的效率是一项艰巨任务，PDN没有尝试采用这种方法，而是构架为使用中间48V母线，以提高从48V到负载点的效率。由两个Vicor DCM3623隔离、稳压DC-DC转换器模块组成的阵列可在满载时以92.7%的效率提供超过600W的功率。在同一个PDN中，Vicor固定比率DC-DC模块以96%的效率将48V转换为从1V到12V的各种负载点要求。Vicor固有的低噪声SAC拓扑结构和先进的封装技术，结合平面磁性器件和超薄外形，大大简化和改进了热管理。

提升半导体老化测试温箱的容量

随着高可靠性终端市场对提供可靠性和稳定性的优质半导体IC的需求，老化测试温箱的使用越来越普遍。仅仅增加老化系统的尺寸和电源数量并不是一个理想的选择，因为受到与传统 ATE 测试系统类似的工厂占地面积的限制。

所有终端市场的 IC 性能和复杂性都有所提高，尤其是汽车和数据中心市场，在这些市场上，严格的质量和可靠性要求是标准，零 PPM 故障率是人们的期望。为了满足这些要求，老化设备正在增加。Vicor 可以通过更紧凑、模块化的电源解决方案帮助实现更高的老化吞吐量，以降低测试和老化成本，实现快速开发。

老化设备得益于带有48V分布式母线的PDN，可满足高功率密度、高效率和高效热管理的需求。全芯片和半芯片封装中的低压Vicor BCM提供固定比率的转换，可在老化应力下提高功率密度和负载电流。 BCM的集成平面磁性器件让模块实现了很薄的厚度 – 通常小于8毫米，可简化冷却方法和热管理。

BCM有多种固定比率，提供了灵活性和模块化，以简化老化板的开发。另一种Vicor固定比率转换器是双向非隔离母线转换器NBM系列。NBM系列产品是一种高效率大功率母线转换器，专为采用分布式48V母线的ATE制造商量身定制，这些制造商需要在大电流下提供12V电压，且在小型散热封装（小至 23mm X 17mm X 5.2mm）中的效率高于 96%。